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晶体测试系统250B-1

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产品名称: 晶体测试系统250B-1
产品型号: 250B-1
产品展商: 创鑫
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简单介绍

晶体测试系统250B-1 美国SAUNDERS公司已推出革命性之晶体测试设备 S&A250B-1晶体测试系统。S&A250B-1拋开了传统概念,以高科技SMD技术,将硬体浓缩成板卡置入电脑内,软体功能更是发挥超快速量测之极至。以下为S&A250B网路分析仪的优异性能:


晶体测试系统250B-1  的详细介绍
晶体测试系统250B-1
 
     美国SAUNDERS公司已推出革命性之晶体测试设备 S&A250B-1晶体测试系统。S&A250B-1拋开了传统概念,以高科技SMD技术,将硬体浓缩成板卡置入电脑内,软体功能更是发挥超快速量测之极至。以下为S&A250B网路分析仪的优异性能:
 
1.超快量测速度:一般参数量测只需0.1秒(< 100m秒),DLD量测100个点只需1秒 (10m秒/点)。寄生振荡有多种扫描型式: Normal,Wide,Hi-Q X’tal,Ceramic Resonator,X’tal Blank,一般寄生振荡量测只需0.3秒。
 
2.    三种FL量测方式:计算法Calculated FL,仿真法Measured FL,实体电容法      Physical load FL
 
3.    使用Window作业平台操作方便,全功能图解软体,可量测晶体及陶瓷谐振器;尔后在现有硬体基础上,再选配升级软体即可量测晶体滤波器。
 
4.    采用PC板卡插入电脑;两通道量测配上不同测试座,可交替量测SMD及Leaded       晶体产品。
 
5.    量测资料可立即输出(采开放式资料库联机ODBC格式)供即时监控及分析用。
 
6.    可做频率及功率的扫描(如350A, 350B的Sweep & Plot功能)。
 
7.    系统在1MHz以上使用时,校正速度快,短路, 50Ω及开路校正袛需30秒。
 
8.    新增低频晶体量测;运用150KΩ测试座,配合低频量测软体,可提升低频晶体量测精度与速度. 如32.768KHz表晶量测。
 
 
规格:
 
1. 量测频率范围:
10KHz~400KHz &500KHz~1MHz
.1MHz~220MHz.。
 
2. 频率比对精度:±1PPM在串联谐振。
 
3. 晶体功率:
0.1nW~1000μW (≦50 MHz)
0.1nW~500μW (>50MHz)
 
4.通道: A, B双通道量测。
5.电脑选型: Pentium 4,OS/XP
带+5V及3.3V电源,PCI卡槽电脑。
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